|
Прибор W20 предназначен для измерения параметров шероховатости и волнистости поверхности. Для проведения измерений используются индуктивные безопорные щупы. Прибор работает в автономном режиме без подключения к внешнему источнику питания. Анализ результатов измерения производится непосредственно на вычислительном блоке. Доступы измерения более 70 параметров шероховатости и волнистости, оценка профилограмм и статистики. Продвинутые пользователи могут воспользоваться программным обеспечением EVOVIS mobile для детальной оценки результатов измерения.
Особенности и преимущества профилометра Hommel-Etamic W20 JENOPTIK:
Простота и удобство при работе;
Интуитивно понятное управление;
Цветной сенсорный экран управления;
Работа от аккумуляторов (800 измерений на одной зарядке);
Способность разворота щупа на приводе в направлении 90° – 0° –90°;
Встроенный эталон шероховатости;
Возможность расположения привода при измерении в любом положении;
Измерения в продольном и поперечном направлении;
Безопорный датчик для контроля параметров шероховатости и волнистости;
Большой объем памяти: 8 программ измерений с измерительными условиями и 10000 результатов;
Контроль до 90 параметров шероховастости;
Синхронизация данных с ПК через USB-порт;
Цветное отображение данных измерений в зависимости от допусков;
Подсветка области измерений;
USB-интерфейс для различных функций;
Автоматическое сохранение результатов;
Возможность архивирования в PDF-формате.
Технические характеристики Hommel-Etamic W20:
|
Измерительный принцип |
контактное трассирование поверхности |
|
Класс точности по DIN 4772 |
Класс 1 |
|
Измерит. диапазон/разрешение |
320 (-210/+110) мкм/10 нм; |
|
Фильтр: длина отсечки шага |
0.025; 0.08; 0.25; 0.8; 2.5; 8 (мм); выбираемая в пределах от -2 до +1 отсечки шага; |
|
DIN 4768 |
RC, [мм], отсечки шага 0.025; 0.08; 0.25; 0.8; 2.5; 8 |
|
ISO 11562, Part 1, (50 % Gauss) |
Гаусс (M1) длина отсечки 0.025; 0.08; 0.25; 0.8; 2.5; 8 |
|
ISO 13565-1 2x Gauss (M2) |
Rk-параметр, длина отсечки 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 |
|
ISO 3274/11562 |
длина короткой отсечки шага волны ls; зависит от шагов lc / ls 30; 100; 300 |
|
ISO 3274/11562 |
фильтр формы lf |
|
Скорость трассирования Vt |
lt – назначенная 0.05; 0.15; 0.5 мм/сек; lt – изменяемая 0.01 - 2.0 мм/сек с шагом 0.01 |
|
Длина трассирования lt |
0.48; 1.5; 4.8; 15 мм или выбирается в пределах 0.1 – 20 мм, в зависимости от механизма подачи |
|
Длина оценки ln |
0.40; 1.25; 4.0; 12.5 мм или в зависимости от длины отсечки шага |
|
Отсечка шага lc[мм] |
0.08; 0.25; 0.8; 2.5; 8.0 |
|
Параметры шероховатости: ISO 4287 |
Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rdc; Rv; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D; RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api |
|
Основные параметры шероховатости: ISO 13565 |
Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo(70%)0.01* Rv/Rk |
|
Параметры профиля: ISO 4287 |
Pt.; Pp; Pz; Pa; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%; Pmr; Pmr% |
|
Параметры волнистости: ISO 4287 |
Wt.; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku |
|
Параметры Motif: ISO 12085 |
R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; Tpaf(CR, CL, CF) |
|
Параметры шероховатости: JIS |
B – 0601 Rz-JIS; Rmax-JIS |
|
Статистика |
(n, x, S, R, max, min) для каждого из 1 - 999 измерений |
|
Вывод данных на монитор и принтер |
Значения характеристики поверхности; статистика; положение профиля; P-, R-, W-, K-профили; кривая материала; условия измерений; допуски |
|
Питание |
100 В – 240 В, 50-60 Гц, 160 ВА |
|
Рабочая температура |
+10°C … + 45°C, макс. относ. влажность 85%; ΔT 2°C/ч |
|
Температура хранения |
-20°C … + 50°C |
Стандартная комплектация:
Дисплейный блок.
Сетевое зарядное устройство 110-230В.
Привод WAVELINE 20, длина трассирования 20 мм.
Щуп TKL300.
Пластиковый футляр.
2 рулона термобумаги для встроенного принтера.
Инструкция по эксплуатации.
Сертификат калибровки производителя.
